SRAM小科普新型存储之MRAM资讯968
今天给大家介绍一下SRAM(Static Random Access Memory)静态随机存储器。SRAM是一种随机存储器,只要保持通电,里面的数据就可以一直保存。SRAM的版图具有高度的规律性,同样他的设计规则也是整个制程中最严格的,所以SRAM的良率以及SRAM的尺寸大小反映了一个Foundry的制程能力。所以在Foundry中也通过SRAM的良率以及性能的变化来反馈制程的问题所在。 今天主要给大家介绍一下SRAM的基本电路结构以及基本的读写过程。首先给大家介绍一下SRAM的基本结构。 最小的SRAM单元我们称为一个bit,他只能存储一个信号0或者1,这样的一个bit由6个晶体管构成,分为2个PMOS(PU),4个NMOS(PD,PG),这里PU和PD形成一个反相器,两个反相器形成互锁结构,通过这样的特性来实现数据的保存。PU(pull up)也称为load transistor,他的功能是实现节点的高电位也就是1的状态,PD(pull down)也称为drive transistor,他的功能是实现节点的低电位也就是0的状态,这样一个bit中的两个节点(SNL和SNR)高低电位互换,就能实现0和1两种状态的存储,PG(pass gate)也称为access transistor,他的功能是实现bitline 的接入,以实现读写功能。 下面给大家介绍一下SRAM的三种操作:读,写,保持。 首先给大家讲一下SRAM的读取操作,SRAM读取信号是依靠两条bitline(BL和BLB)的电压信号差来读取信号的。假设bit存储数据为时对应的SNL=0,SNR=1,存储数据为1时,对应SNL=1,SNR=0。假设目前bit里面存储的数据为0,SNL=0,SNR=1. 在读取的时候对BL,BLB进行预充电,对应的测试条件如下:BL=BLB=1,WL=1。在这样的条件下,如下图所示 ,SNL=0 处于低电位,SNR=1处于高电位,左侧的PU关断,PD开启,右侧的PU开启,PD关断。右侧色BLB会保持电压不变,但是左侧的PD开启,导致电流由BL流向GND,会导致BL的电位下降。初始时BL=BLB=1,BL电位下降之后,BL和BLB会出现电压差,这个信号会通过外围放大电路输出,自此SRAM的信号读取完成。在这样的条件下,为了保证信号能够准确读取,需要使PD的电流大于PG的电流,以此来保证BL与BLB的电位差足够大,能够准确读取。 下面介绍一下SRAM的写操作,假设目前bit里面存储的数据为0,SNL=0,SNR=1. 写操作就是将SRAM中SNL和SNR的电位反转,以此达到写入的目的。在写入的时候对BL,BLB进行预充电,对应的测试条件如下:BL= 1,BLB=0,WL=1。此时左侧的状态与读取时相同,而右侧由于BLB=0,SNR的电位会逐渐下降,SNR的电位下降又会导致左侧PU的开启,PD的关断,这样SNL电位会逐步抬升到1,右侧的PD打开,PU关断,数据翻转完成,为了保证写入的顺利,SNR的电位必须能够下降,所以PU的电流必须小于PG,这样PU的高电位就不足以拉升SNR的电位,SNR的电位由BLB的电位决定。 最后是保持的操作,BL=BLB=1,WL=0,在这样的条件下,PG关断,BL,BLB不能对bit中保持的数据进行修改。 上面就是SRAM的读写和保持操作了,下面给大家介绍一下蝴蝶图butterfly curve。Butterfly curve是能体现SRAM稳定性的重要指标,准确的来说是butterfly curve中内接最大的正方形的边长,我们称为Static noise margin(SNM),这个值越大,代表SRAM越稳定,存储的信号越不容易被反转。由于SRAM是一个对称的结构,butterfly curve其实也是中心对称的两条曲线,因为SNL和SNR互为输入输出节点。下面我们把SRAM拆成一半来看一下,应该可以更详细的了解。 把SRAM拆成一半,就是一个反相器带一个PG,如下面这张图,那么本质上他的输入输出曲线就和反相器一样,输入为1时,输出为0,输入为0时,输出为1.由于PG的存在,输出信号会受到左侧PG的影响,有所变化。这里先给大家介绍几个概念,我们定义PU与PD的电流比(Ipu/Ipd)为α ratio,PD与PG的电流比(Ipd/Ipg)为β ratio,PG与PU的电流比(Ipg/Ipu)为γ ratio。当input=0时,output=1,随着input逐渐增大,output的电位会逐渐下降,但是input的电位会受到左侧PG的影响,我们在读写的时候PG是打开的,BL是预充电的,所以PG的电流会影响到input的电位,当PG的电流越大时,input的电位抬升越快,那么output的电位转变就越快,即曲线中output由1向0转变的曲线弧度越陡,这就解释了γ值变化对曲线的影响。下面我们来看PU和PD的相互影响,PU和PD组成一个反相器,在这里PU的主要目的是抬升output的电位,而PD则是降低output的电位,在input由0到1增大时,PU会逐渐关断,PD会逐渐开启,实现output由1向0的转变。所以PD越容易开启,就说明output越容易转变,所以为了提高SRAM的稳定性,PD的Vt要抬高,让他不容易转变。所以相对来说α越大,SRAM越稳定。当input接近1时,output接近0,但是由于右半侧PG的影响,output只能接近,但不可能达到0,为了让output接近0,PD的电流需要大于PG的电流,尽量使output的电位接近0, 这就是β ratio。 解释完了上面这些,我们再来看看butterfly curve,下面这张图里面标的A,B两个位置,就很好解释了,A点位置受到PD PG的电流大小影响,PD的电流越大,β ratio越大,A就越向坐标轴靠近,SNM就越大,而B的位置受到PU,PD的VT影响,PD的VT越大,就意味着PD的电流相对变小,α值越大,SNM越大。这里的电流大小是相对的,并不是说PD的电流要比PU小。相反,PD的电流一定要比PU的大,因为在写的过程中,PG的电流要大于PU的电流,因为之前讲过,PU的电流必须小于PG,这样PU的高电位就不足以拉升SNR的电位,SNR的电位由BL的电位决定。而在读的过程中,PD要电流要大于PG才能把节点的电位降下来,所以PD的电流一定是要大于PU的。 最后我们来看一下SRAM的margin map,从下面这张图我们就可以看到不同的MOS管阈值电压的变化,对SRAM性能的影响。当NMOS和PMOS的阈值电压都比较低时,就是FF,即Fast NMOS Fast PMOS的状态,阈值电压降低,代表电流增大,晶体管读取速度会变快,但是阈值电压降低就代表关断困难,即在关断条件下,漏电流比较大。当NMOS和PMOS的阈值电压都较高的情况下,晶体管读取速度降低,两条BL的电位无法在一定的时钟信号内达到足够的差值,无法读取,就会产生信号读取失败。当NMOS阈值电压较低,PMOS阈值电压较高的时候,即PD的阈值电压低,PU阈值电压高,那么input信号稍微有一点降低,PD就会打开,降低output的电位,信号就会反转。当NMOS阈值电压高,PMOS阈值电压低的时候,PG就会打开不足,无法将BL的信号通过PG传输到节点,调解节点电位,即写入会有问题。所以SRAM中6个晶体管的阈值电压都要在一定范围内,才能保证SRAM的正常工作。 好啦,以上就是SRAM的一些基础小科普,今天就给大家介绍到这里吧。
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SRAM
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